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ST-SP 2000系列
半導體分立器件測試篩選系統
可測試 19大類27分類 大中小功率的 分立器件及模塊的 靜態直流參數
（測試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極輸出 2000V / 50~1250A，分辨率較高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
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陜西-半導體分立器件測試篩選系統-ST-SP 2000
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價 格：免費咨詢行業專家- 最小采購量：不限個
- 聯系人姓名：王先生
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西安天光測控技術有限公司
半導體分立器件測試篩,IGBT靜態參數測試,IGBT動態參數測試,功率循環試驗臺,高溫反偏差測試系統,分立器件測試,柵極電荷測試儀,熱阻抗測試儀
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