ST-SP2000系列
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
(測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)
主極2000V / 50~1250A,分辨率較高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
?產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測試)
? 失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測試,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案 )
? 選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))
? 來料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 產(chǎn)線自動(dòng)化測試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動(dòng)化測試)
?產(chǎn)品簡述