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內(nèi)存條顆粒DDR2memorySDRAM測試架治具的詳細(xì)描述：
產(chǎn)品特點(diǎn)及性能參數(shù)：
◆產(chǎn)品通用程度高，只要換IC限位框，即可測試所有內(nèi)存IC（寬度≤12MM）；
◆有球無球均可測試（只需更換上蓋的IC壓板）；
◆采用手動翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便；
◆上蓋的IC壓板采用擺動式結(jié)構(gòu)，下壓平穩(wěn)，IC的壓力均勻，不移位；
◆探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸，而不會損壞錫球；
◆高精度的定位槽，IC定位，測試效率高；
◆測試準(zhǔn)確性高，大大減少誤判率；
◆采用雙頭針，探針可更換，維修方便，成本低；
◆絕緣材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框鋁合金材料制作；
◆測試頻率可達(dá)1066M Hz；
◆測試壽命長，有效測試10萬次以上；
◆內(nèi)存條測試治具測試規(guī)格：DDR2X8 一次性可測試8顆內(nèi)存顆粒；
◆可以定制單顆內(nèi)存IC與服務(wù)器主控IC的測試治具
◆可以免費(fèi)提供相關(guān)
