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四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀,測(cè)量表面電阻,四探針電阻率/方阻測(cè)試儀,體積電阻測(cè)試儀,四探針測(cè)量?jī)x,表面電阻測(cè)試儀,探針測(cè)試儀,導(dǎo)體電阻,體積電阻測(cè)試儀,四探針?lè)y(cè)電阻,方塊電阻測(cè)試儀,薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀,測(cè)量體積電阻率,超低阻型電阻率/方阻測(cè)試儀 ,鋁箔直流電阻測(cè)試儀,數(shù)字式四探針測(cè)試儀,四探針電阻測(cè)試儀,表面電阻率測(cè)試儀,四探針?lè)阶铚y(cè)試儀,體積電阻率測(cè)試儀,半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量及電阻率測(cè)試儀,導(dǎo)體電阻、表面電阻測(cè)試儀，體積電阻測(cè)試儀,絕緣材料表面電阻,半導(dǎo)體電阻率綜合測(cè)試儀,塑料體積電阻測(cè)量,半導(dǎo)體橡塑電阻率測(cè)試儀,表面體積電阻檢測(cè)儀,半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀,半導(dǎo)體電阻儀,半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀,三環(huán)電極測(cè)試表面電阻,半導(dǎo)體體積電阻率測(cè)試儀,粉末電阻率測(cè)試儀,絕緣粉末表面電阻,材料體積電阻率測(cè)試儀,表面電阻率測(cè)試儀,材料電阻率和表面電阻率測(cè)試儀,固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀,表面電阻測(cè)試儀,表面比電阻率測(cè)試儀,材料體積電阻率和表面比電阻率測(cè)試儀,表面比電阻（表面電阻率）織物電阻率測(cè)試儀,表面電阻率檢測(cè),地毯電阻率測(cè)試儀,薄膜電阻率測(cè)試儀,絕緣材料電阻率測(cè)試儀,點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)試儀,數(shù)字直流電阻測(cè)試儀,直流電阻測(cè)試儀, 粉末電阻率檢測(cè)儀,電線電纜電阻率檢測(cè)儀,電纜電阻率測(cè)試儀,電線電阻率測(cè)試儀,電阻率測(cè)量,三環(huán)電極測(cè)量體積電阻,表面/體積電阻測(cè)試儀
FT-330系列普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀
按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.
本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
規(guī)格型號(hào) | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
1.方塊電阻范圍 | 10-4～2
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