金屬四探頭電阻率方阻測試儀 - HS-MPRT-5
本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及標準測試方法有關規定設計。 它主要由電器測量部份(主機)及四探頭組成,需要時可加配測試架。 為減小體積,本儀器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供,隨時可進行校準,以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產品檢測。對1~100Ω
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