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X射線膜厚測試儀是多用途的X射線熒光測量法的技術，適合快速及非破壞性測量物料成份和鍍層厚度的質量。X射線膜厚測試儀能夠應用于廣泛的產品種類。鍍層厚度和鍍層成份的關系通常是非常復雜的，只要使用WIN FTM軟件，所有物理上可以測量的鍍層組合都能夠解決。
X射線膜厚測試儀應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
歡迎來電！請聯系，金霖電子 吳小姐 手機：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司網址：www.kinglinhk.com 深圳寶安中心區創業一路宏發中心大廈
