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菲希爾-X-RAY膜厚測量儀是結(jié)合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設(shè)計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合國際標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行非破壞及不接觸的測量,除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量,至于需要測量電鍍槽內(nèi)的金離子停含量的濃度也是十分簡單。
菲希爾-X-RAY膜厚測量儀采用的測量法特點有以下幾種：
1、不需要先對樣品進(jìn)行處理便能測量。樣品可以直接放入測量室進(jìn)行測量，不需特別處理樣品。
2、不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z＝13（鋁）至U＝92（鈾）
3、固體、漿狀及液體的樣本也可以測量。即使是極小不規(guī)則的測量面積也可快速，免接觸的測量。
菲希爾-X-RAY膜厚測量儀可應(yīng)用于治金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導(dǎo)體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。
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