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同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無(wú)法查出它的上升與下降沿的速度四.晶體振蕩器1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測(cè)試,萬(wàn)用表等無(wú)法測(cè)量,否則只能采用代換法了2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測(cè)試儀>的VI曲線應(yīng)能測(cè)出。這類芯片是否在使用<測(cè)試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí),還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過(guò)多次試驗(yàn),可能大的原因是:檢修工具(如測(cè)試儀,電烙鐵等)的外殼漏電所致3.對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來(lái)二.復(fù)位電路其他層：主要包括4種類型的層。（鉆孔方位層）：主要用于印刷電路板上鉆孔的位置。（禁止布線層）：主要用于繪制電路板的電氣邊框。（鉆孔繪圖層）：主要用于設(shè)定鉆孔形狀。（多層）：主要用于設(shè)置多面層。
