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phoenix nanome|x 是超高分辨率的納米焦點 X射線檢測系統，設計用于檢測半導體及SMT行業的高品質的組件和互連。 該系統具有佳的性能和多功能性，可用于二維X射線檢測，以及全三維計算機斷層掃描(nano ct)。 有了新的 x|act 軟件包， phoenix nanome|x是可選的系統，用以確保滿足目前和未來的零缺陷要求。
應用
安裝好的印刷電路板
處理器箱內倒裝芯片焊點的納米焦點X射線圖像。 圖像顯示一個焊橋和幾個開放的焊點。 焊點直徑大約為 150
