牛津儀器CMI900 無損電鍍膜厚測量儀,測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量,快速 無損,業內廣受好評,客戶應用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系 測量量樣品 洽談往來 本公司經營多年工程師經驗豐富,商業合作個方式靈活。同時經營原裝OXFORD X光射線管 ETP探頭等配件,以及ROHS檢測設備國產ROHS分析檢測儀,臺式元素分析儀。
儀器介紹
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于WindowsXP
中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包,實現了對CMI900主機的全面自動化控制,
PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業
技術參數:
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都于全世界的測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15 種元素。
B :度于世界,到0。025um (相對與標準片)
C :數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統計功能提供數據平均值、誤差分析、較大值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,小可達0.025 x 0.051毫米
牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀