錫膏測厚儀SN-110 2.5D * 產品簡介： 測量原理：非接觸式，激光束 測量精度：±0.002mm 重復測量精度：±0.004mm 基座尺寸：324mm×320mm 移動平臺：大范圍快速定位，微調，電磁鎖定 3D掃描行程：10mm 3D掃描驅動：步進伺服驅動，絲桿導軌系統 3D測量：掃描，3D輪廓重組，任意測量 影像系統：高清CCD，640×480 Pixel 移動平臺行程：230mm×200mm 移動平臺尺寸：320mm×320mm 測量方式：3D測量或2D測量 光學放大倍率：25～110倍（5檔可調） 影像大?。?00×480 Pixel 電源：220V～50Hz 照明系統：環形LED光源（PC控制亮度）測量光源：可低至5.0μm高精度激光束 系統尺寸：L372mm×W 557mm×H 462mm 測量軟件：SH-110-2.5D/SPC2000（Windows2000/XP平臺） * 資料下載： 暫無資料 暫無資料 暫無資料 暫無資料 測量軟件： SN-110-2.5D視頻觀察，圖像保存，厚度測量，數據記錄，背景光，激光亮度控制，面積（方 形、不規則多邊形、圓形）/體積/間距（X、Y軸）/夾角測量，可記憶24條生產線/任意數量產品。 S.P.C軟件HSPC2000:根據的產品、生產線和日期范圍進行數據查詢、修改、刪除、導出（文本和EXCEL 表）、預覽、打印，能統計平均值、較大值、小值、方差、標準差、不良數、不良率、偏度、峰度、Ca、 Cp、Cpk、Pp、Ppk，并可繪制、預覽，打印X-BAR管制圖和R管制圖（其中的管制參數可自行設定）。 測量原理： 非接觸激光測度儀由專用激光器產生線型光束，以一定的傾角投射到待測量目標上，由于待測與基板存在高度差，此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現斷續落差，根據三角函數關系可以用觀測到的落差計算出待測目標與周圍基板存在高度差，從而實現非接觸式的快速測量。 技術參數： 測量原理：非接觸式，激光束 測量精度：±0.002mm 重復測量精度：±0.004mm 基座尺寸：324mm×320mm 移動平臺：大范圍快速定位，微調，電磁鎖定 3D掃描行程：10mm 3D掃描驅動：步進伺服驅動，絲桿導軌系統 3D測量：掃描，3D輪廓重組，任意測量 影像系統：高清CCD，640×480 Pixel 移動平臺行程：230mm×200mm 移動平臺尺寸：320mm×320mm 測量方式：3D測量或2D測量 光學放大倍率：25～110倍（5檔可調） 影像大?。?00×480 Pixel 電源：220V～50Hz 照明系統：環形LED光源（PC控制亮度）測量光源：可低至5.0μm高精度激光束 系統尺寸：L372mm×W 557mm×H 462mm 測量軟件：SH-110-2.5D/SPC2000（Windows2000/XP平臺）