HAST高度加速壽命試驗機
加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓
、負荷.等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。
用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用
壽命的故障分布函數呈樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗
。
隨著半導體性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產
生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效
率、減少試驗時間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主
要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗
被IEC(國際電工委員會)所標準化。
注意事項:USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗)
產品特點:
■ 智能型排氣設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性
■ 長時間實驗機臺運轉400小時超長效實驗運轉時間
■ 內建USB2.0