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MOSFET參數測試設備：
靜態參數測試（包括IGSS / BVR / VDS（Sat） / IDSS / VGSTH / VF / RDS（on））；動態參數（開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區）測試（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；雪崩能力測試，老化及可靠性測試（HTRB / HTGB）。
IGBT參數測試設備：
靜態參數測試（包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE）；動態參數（開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區）測試（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；老化及可靠性測試（HTRB / HTGB）。
二極管及可控硅/晶閘管（SCR）參數測試設備：
靜態參數測試（包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL ）；動態參數測試（Turn_on&off / Qrr_FRD）；浪涌參數測試ITSM；di/dt測試；老化及可靠性測試（高溫阻斷）；熱阻參數測試Rth。
產品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優勢，將廣泛應用于IDM廠商、器件設計、制造、封裝廠商及高校研究所等。
