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ScopeX COAT鍍層分析儀適用于多層鍍層厚度測量及材料分析，可定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。被廣泛應用于汽車制造、航空航天、造船、五金產品、標準件、電子元器件、電器零部件、機械零部件、衛浴裝飾產品、珠寶首飾等領域。
使用優勢
超大測量空間
樣品室空間寬大，樣品放置便捷，可放置平整的樣品，亦可放置形狀復雜的大樣品。
下照式設計
從下往上測量，無需額外對焦，可輕松實現對鍍層樣品的高效測量。
高靈敏度探測器
大功率高效X射線管結合高性能探測器，可探測低至1keV的熒光輻射能量，從輕元素到重元素，全范圍都可以輕松應對。
高清晰攝像頭
500萬像素工業級高清攝像頭，可以在操作時精確顯示測量位，即使是非常細的線材或半導體微小的接點都能高質量地顯示出測量點所在位置。
數據輸出
簡便的測試數據管理系統，靈活多變的報告輸出格式（EXCEL、PDF等），豐富的報告內容（樣品圖像、測量結果、光譜等）滿足用戶各種數據管理需求。
規格參數
| 測定對象 | 50KV/200uA上限，管壓管流可自由調節，W/Ag/Rh靶材(可選配) |
| 測定范圍 | Na(鈉)—U(鈾) |
| 樣品室尺寸 | 365×300×78mm（L×W×H） |
| 樣品重量范圍 | 0-2.5KG |
| 開蓋方式 | 自動控制 |
| 主機尺寸 | 570×400×400mm（L×W×H） |
| 主機重量 | 47KG |
| X射線管 | 大功率側窗X射線管 |
| 電壓 | 上限50KV |
| 電流 | 上限1mA |
| 冷卻方式 | 空冷 |
| 檢測器類型 | BOOST型Si-pin探測器/大面積SDD探測器(可選配) |
| 靶材 | Ag/Rh/W靶材，根據客戶應用配置 |
| 測定環境 | 大氣，真空(選配)、氦氣(選配) |
| 樣品觀察 | 500萬像素高清工業攝像頭 |
| PC處理器(CPU) | i3-7100同等主頻或以上 |
| 內存（RAM） | DDR4 4G內存或以上 |
| 硬盤容量(ROM) | 1TB HDD或256GB SSD或以上 |
| OS | Windows 10 |
| 溫度條件 | 10°C~35°C |
| 相對濕度 | 40~70%(不結露) |
| 電源 | 220VAC |
| 額定功率 | 100W |
| 準直器 | 0.5mm |
| 厚度最低檢出限 | 0.005μm |
| 最小檢測直徑 | 0.55mm |
| 分析層數 | 5層（4層+基材） 每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素 |
