產(chǎn)品分類(lèi) 更多>>
X—ray 無(wú)損檢測(cè) X 射線(xiàn)透視檢測(cè) X-ray 檢測(cè)
X-ray 檢測(cè)是利用X射線(xiàn)束透射一片來(lái)檢測(cè)其內(nèi)部焊接缺陷、短路、開(kāi)路、氣泡、裂紋幾異物分析，是進(jìn)行產(chǎn)品研究、失效分析、高可靠性篩選、質(zhì)量檢驗(yàn)、改進(jìn)工藝等最有效的無(wú)損檢測(cè)方法。
應(yīng)用范圍：適用于半導(dǎo)體芯片、PCBA、汽車(chē)電子、IC封裝、金屬材料、介質(zhì)材料如：電子元器件及印制電路板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、內(nèi)引線(xiàn)開(kāi)路或短路、粘結(jié)缺陷、焊點(diǎn)缺陷、封裝裂紋、空洞、橋連、立碑及器件漏裝等缺陷；同時(shí)可檢測(cè)連接件、電子集成件、電纜、裝具、塑料件、鋁鑄件等的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及缺陷。
設(shè)備參數(shù)：
1. 最小分辨率：0.95微米
2.影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度，樣品臺(tái)可360度旋轉(zhuǎn)
3.系統(tǒng)放大倍數(shù)：6000X、幾何放大倍數(shù)：0-2400X
4.電子槍最高電壓：160KV、電流：500uA\功率：20W
5.最大樣品尺寸：510 * 510mm
6.檢測(cè)區(qū)域尺寸：458 * 458mm
公司名稱(chēng)：蘇州宜凱檢測(cè)技術(shù)有限公司
公司網(wǎng)址：http://www.ekaijc.com/
