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langer朗格爾E 1 抗干擾開發系統
E1 抗干擾開發系統說明
E1 抗干擾開發系統是電子研發工程師對組件進行快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等脈沖抗干擾測試的成熟工具。利用該工具，可以對模塊進行小空間范圍內的抗干擾度分析。在對受試設備（EUT）的抗干擾分析中，能夠選擇性地給部分模塊或部分路段注入干擾電流（干擾電流路徑），以及能夠對其表面的選定區域施加電脈沖場（E 場）或磁脈沖場（H 場）正是快速、準確定位薄弱點的關鍵。另外，使用本系統還可以在施加脈沖干擾的同時，進行無反作用的光纖信號監測。
E1 干擾發射開發系統的著重點是對系統開發過程的支持。利用 E1 系統，開發人員可以在工作場地排查設備/組件的干擾問題，或者通過了解干擾問題的直接原因，測量評估修改措施的效果，增強設備/組件的抗干擾度。
E1 抗干擾開發系統不能用來進行標準兼容性測試，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 標準對組件進行抗干擾的測試結果，是使用 E1 系統進行抗干擾測試的良好基礎。通用脈沖群發生器產生的標準干擾信號被耦合到輸入端，并通過地線回流到發生器。這些脈沖狀的干擾信號流過設備組件的路徑是未知的。在設備當中，未知的部分干擾信號流入某個未知的接受載體而產生功能故障。這個薄弱點的位置往往僅局限在組件上幾平方厘米的范圍內，但是通過標準測試方法很難對其定位。開發人員還不知道，是干擾電流及其磁場以及在位置導致導線回路中產生感應電壓脈沖，或者電場容性耦合進入了敏感線路。
如果設備通不過標準測試，其重要的測試結果是關于功能故障類型的詳細信息。但是僅憑借這些故障信息尚無法具體定位受試設備中的薄弱點。所以，建議先對受試設備進行標準的抗干擾測試，確定可能的故障現象，然后開發人員根據這些故障現象，在產品開發場地利用 E1 系統定位
故障點及分析故障原因，給出排除干擾問題、設計修改等解決辦法，并使用 E1 開發系統，評估各項修改措施的有效性。
借助 E1 系統，開發人員可以節約產品開發時間、降低開發成本。
Langer BS 02
Langer BS 04DB
