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一、直探頭
1. 儀器設置：
（1） 基本主菜單
① 范圍：根據工件的厚度確定
② 聲速為5920米/秒
（2） 斜探頭主菜單
①探頭角度為“0”
2. 儀器校準
（1）將探頭偶合到CSK-ⅢA試塊上，調節(jié)探頭零點，使一次底波和二次底波分別對應相對水平刻度，此時探頭零點顯示值即為該值探頭零點（如果不校準，一般設為0.8-0.9）
3.測量
①范圍：當厚度較小時，一般范圍為厚度的五倍；當厚度較大時范圍為厚度的2倍
②如果材料厚度較大時，主要看始波與一次回波之間有沒有超過標準的波或一次回波下降程度。
③如果材料厚度較小時，主要看一次回波與二次回波之間有沒有超過標準的波或一次回波下降程度。有時需要看一次回波后面有無缺陷波
二、斜探頭
1. 儀器設置
（1） 基本主菜單
① 范圍：100
2. 儀器校準
① 將探頭偶合到CSK-Ⅰ試塊相應位置，調節(jié)探頭零點，使100圓弧和50圓弧反射波分別對應相應的水平刻度，此時的探頭零點顯示值即為該斜探頭零點，同時讀出此時探頭的前沿，記錄并輸入儀器
② 將探頭偶合到K值校準位置，找到較高波，如此時探頭前沿對應的刻度值與K 值吻合，則K值校準完畢，如誤差大于0.1，則該探頭不再使用
3. 測量
（1）基本主菜單
①當使用一次波測量時，范圍為≥ d2 k2d2 ;當使用一次波測量時，范圍為≥2 d2 k2d2
②聲速為3230米/秒
③輸入已經校正的該探頭延時
（2）斜探頭主菜單
① 探頭角度為“校準值”
② 厚度≧材料厚度
（2） 進行測量
①只要在相應的靈敏度下，有波出現即為傷波，同時根據DAC曲線或計算法給缺陷定性定量
