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TAS7500系列是目前世界上緊湊的，多用途太赫茲（THz）光譜成像檢測系統。可覆蓋0.1-4THz，光譜掃描速度可達8ms，光譜分辨率7.5GHz。
特點：
※ 三種不同的測量模式，透射、反射、衰減全反射，使用戶可以根據自身的應用選擇適合的光譜分析方法；
※ 可對薄片材料進行無損的成像和分析；
※ 光譜掃描速度可達8ms，同時可出色重復性；
TAS7500SP太赫茲光譜分析系統
TAS7500IM太赫茲成像系統
l 各種形態的晶體分析
l 液態物質分析
l 成分定量分析
l 對粉末、薄片近表面光譜分析
l 對薄片多孔性以及密度分析
l 對樣品進行無損的斷層分析
l 可分析薄片的厚度和密度
l 可對多層結構進行分析
l 可對有涂層結構的樣品進行分析
l 可分析薄片樣品內部結構
