本系統提供的LED光物性量測。使用高精密的光譜儀、積分球、光管及人性化的電腦操作軟件，提供全光譜、色溫、色度、波長、CRI、及光強度等全功能自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、光譜儀、光管及電腦控制為主要元件，搭配開發之控制軟體，在簡易的操作介面之下，提高測試準確度。選用本系統進行LED進料檢驗及品保控制已有科學園區多家廠商 。 此套系統使用的是掃描（scanning)式的光譜儀，解析度高，量測穩定。為了滿足使用者多樣的需求，提供了不同的測度項目，包括了IV，（X，Y），λd，λp，TC，CRI，FWHM，IP，VF，IR，IF，VF與THY。它也能測量不同形式的LED，例如LED CHIP，SMD，LAMP，MODULE，LED DISPLAY。 測試項目及規格： 量測項目 規格 Reverse Current(逆向電流) (IF) 0-1,00uA Reverse basic voltage（逆向電壓）(Vf) 0-50Vprogrammable Forward Current(順向電流) (IF) 0.1-1000mA Forward basic voltage(順向電壓 )(Vf) 0-20Vprogrammable Peak Wavelength(尖峰波長)(λp) 350-1050nm Luminance intensity(光強度) 0-50,000mcd Radiance intensity (輻射強度) 0-5000mW/sr Color Temperature(色溫) 1000-20,000K Dominant Wavelength(主波長) (λd) 400-700nm Chromaticity coordiantes(色度坐標) CIE (x,y) Correlated Color temperature (相對色溫) CCT,1,000-100,000K Purtiy(度) FWHM(半寛波長) 0-200nm Center Wavelength(中心波長) 350-1050nm Centroid Wavelength(重心波長) 350-1050nm CRI(演色指數) 0- 適用范圍： *LED晶片廠研發部及品管部，LED封裝廠研發部及品管部，LED來料檢驗 *度到小數點3位小數，同樣提供全光譜、色溫、色度、波長、CRI及光強度等全功自控制，達到需要的待測物各種光參數的量測，可用于對日常進料、檢驗LED及分類； 系統特色： *全自動化量測設計，操作介面簡單 *使用者可自行與標準樣品校正，無須負擔龐大的校正費用 *軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改； *可產生各種使用者所需單色光譜光源及功率 *采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S標準及演等方法 系統硬件： 型號 規格 光譜儀 ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm 積分球 ISP-050,50mm積分球 電源供應器 Keithley#2400 optimum system controller Windows系統自動控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console軟體規格為 Visual Basic 6.0開發 ,相容Windows 98以上版本 optical components 偵測器,三色光源,光源箱,光纖及其他光學配件 測試畫面：