Nanotrac Wave 納米粒度儀具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復及測試準確等特點，適用于各種納米級、亞微米級固體顆粒與乳液等領域中。今天小編主要來介紹一下Nanotrac Wave 納米粒度儀基本應用知識，希望可以幫助用戶更好的應用產(chǎn)品。 Nanotrac Wave 納米粒度儀產(chǎn)品簡介： 隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術的自相關檢測(PCS)變得更加不確定。40多年 來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，超細顆粒分析儀器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研發(fā)成功，首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年，利 用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術，結合動態(tài)光散射理論和先進的數(shù)學處理模型，將分析范圍延伸至 0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達百分之四十，基本實現(xiàn)樣品的原 位檢測。異相多普勒頻移技術采用可控參考穩(wěn)定頻率，直接比照因顆粒的布朗運動而產(chǎn)生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度，較之于傳統(tǒng)的自相關技術，信號強度高出幾個數(shù)量級。另外，新型“Y”型梯度光纖探針的使用，實現(xiàn)了對樣品的直接測量，極大的減少了背景噪音，提高了儀器的分辨率。 Nanotrac Wave 納米粒度儀技術特點： 采用新的動態(tài)光散射技術，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法; 專利的異相多譜勒頻移技術，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結果的性; 專利的可控參比方法(CRM)，能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度; 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性; 專利的快速傅利葉變換算法(FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間; 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度; Nanotrac Wave 納米粒度儀技術參數(shù)： 粒度分析范圍: 0.8nm-6.5μm 重現(xiàn)性：誤差≤1% 濃度范圍：ppb-40% 檢測角度：180° 分析時間：30-120秒 準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 測量精度: 無需預選，依據(jù)實際測量結果，自動生成單峰/多峰分布結果 理論設計溫度：0-90℃，可以進行程序升溫或降溫 兼容性：兼容任何有機溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液 Nanotrac Wave 納米粒度儀測量原理： 粒度測量：動態(tài)光背散射技術和全量程米氏理論處理 分子量測量：水力直徑或德拜曲線 專利技術：膜電極，微電場電勢測量，“Y”型光纖探針設計，異相多普勒頻移，可控參比方法，快速傅立葉轉換算法，非球形顆粒校正因子。 http://www.1718world.com/ziliao/201509/17/ziliao-24013.html http://www.1718world.com/ziliao/201509/17/ziliao-24014.html