瑞典XCounter雙能光子計數X射線探測器XC-FLITE X系列
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產品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數字轉換、自掃描、雙能采集、光子計數X射線探測器,用于數字X射線成像系統,基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發而成,XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像,也可以采用時間延遲總和(TDS)模式,掃描速度較高90mm/s。
引進反符合技術的雙能采集功能,是XC-FLITE X系列產品的先進之處,在雙能采集過程中,通過兩個獨立的閾值將探測到的光子能量加以比較,并分別讀出,雙能設置可用作材料分析,這為新的醫學和工業X射線成像技術開啟了大門。反符合技術的運用,確保將每一個光子信號分布在適當的像素點上,從而獲得更高的能量分辨率。
XC-FLITE X系列的產品內部具有一個精心設計的掃描驅動元件,可自動控制,整個掃描過程是完全透明可見的。
集成
XC-FLITE X系列,通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計算機上,自帶靈活的軟件開發包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統平臺
應用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標本成像
*工業檢測(NDT)
特點