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iEDX-150T 采用非真空樣品腔；
用于金屬電鍍鍍層分析；
可同時分析鍍層中的合金成分比列。
技術指標：
多鍍層，1～6層
測試精度：0.01 um
多次測量重復性誤差<0.1％
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)
測量時間：10-60秒
Si-PIN探測器，能量分辨率為149電子伏特
微焦X射線管50KV/1mA，鎢靶，
焦斑尺寸 75um, 壽命大于3萬小時
7個準直器及6個濾光片自動切換
XYZ三維移動平臺，較大荷載為5公斤
高清CCD攝像頭，監控位置
多變量非線性去卷積曲線擬合
高性能FP/MLSQ分析
平臺移動范圍 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
圖譜界面：
軟件支持無標樣分析
超大分析平臺和樣品腔
集成了鍍層界面和合金成分分析界面
采用先進的多種光譜擬合分析處理技術
分析精度可達到0.01um
公司網址：www.sense.cc
