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光譜測金儀EXF7200
技術參數： 微信號：913748737
技術指標：
分析范圍：1%～99.99%
測量時間：自適應 30～50秒
測量精度：±0.1%
測試環境：常溫常態
可分析元素：金(Au)，銀(Ag)，鉑(Pt)，鈀(Pd), 銅(Cu)，銠(Rh)，釕(Ru)，鋅(Zn)，鎳(Ni)，鎘(Cd)，根據元素能量表可觀察以上出各元素的圖譜。
X射線源：X射線光管（風冷無輻射）
測量點尺寸：1～2mm
高壓器：4～50Kv
分析：多通道模擬
電壓：100～127或200～240V，50/60 Hz
尺寸：500*500 *350 mm（較大處）
重量：35kg
操作系統：Windows2000/XP
儀器配置：
X光管
正比計數探測器
高壓電源
放大電路
液晶顯示屏幕
攝像定位系統
鍍層測量：
??? 鍍層厚度范圍<30μm
??? 可測量元素種類：Au 、Ag 、Pt 、Pd 、Rh 、Ru、 Cu 、Zn 、Ni 、Cd
??? 較大測量層數：5層
????測量精度：0.03μm
產品特點：
1）儀器性價比高
承諾，本公司各款測金儀價格，低于市場上任何一款同類產品的價格。本產品采用先進技術成果，提高了性能，節省了成本。
2）測量元素全面，涵蓋貴金屬行業補口數據庫
能夠測量：金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銠Rh，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni，鎢W等金屬元素。
3）快速定性定量判斷
1～3秒可以對首飾做定性判斷，30秒檢測出結果。較高度可以達到0.1%，風冷散熱循環系統，穩定，重現指標高。
4）將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域
該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的位置的圖片信息，連同計算報告一起打印出來。
5）的硬件參數液晶顯示系統
儀器外殼上自帶系統參數液晶顯示屏，操作人員可隨時通過顯示屏，觀察到設備內部硬件的參數，例如電壓﹑電流﹑溫度等等，能有效延長設備壽命。
6）售后服務遵循儀器儀表規定
產品實行儀器儀表“三包”,一年保修,三月包換，終生維護,終生免費軟件升級。
