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導(dǎo)電粒子顯微鏡
LCD顯微鏡
半導(dǎo)體顯微鏡
金相顯微鏡
劉偉（蘇州恒商工業(yè)設(shè)備）0512-6832 3232 138 1484 8068
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有樣機可看。
(日本尼康NIKON，奧林巴斯OLYMPU)國產(chǎn)型號規(guī)格
商品描述：
應(yīng)用
LCD液晶 導(dǎo)電粒子 彩色濾光片 手機屏幕 FPD模組 半導(dǎo)體晶圓片 FPC PCB IC封裝 光盤CD 圖像傳感器CCD CMOS PDA
光源: 采用3W 高亮度LED落射和透射照明裝置
物鏡: 高清晰平場熒光物鏡.
偏光: 主機內(nèi)含有可調(diào)節(jié)偏光裝置
微分干涉DIC
主機內(nèi)含有可調(diào)節(jié)微分干涉DIC裝置,使觀察更清晰,具有更強的立體感.調(diào)焦
國產(chǎn)儀器的主要用途和特點
微分干涉金相顯微鏡采用的無限遠光學(xué)系統(tǒng)，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統(tǒng)設(shè)計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數(shù)碼攝像裝置觀察，能在明場、暗場、偏光、微分干涉下進行觀察和攝影，配備專用軟件，更可同步進行測量分析。可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業(yè)院校進行金屬學(xué)與熱處理、金屬物理學(xué)、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用。正置金相顯微鏡，選用的光學(xué)元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場無限遠長工作距離明暗場物鏡，可選用微分干涉（DIC）觀測、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好。是針對半導(dǎo)體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為工業(yè)金相顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導(dǎo)體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
