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低溫撓卷試驗裝置
低溫撓卷試驗裝置標準：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
低溫撓卷試驗裝置說明：
導體斷面積100mm2以下之試料在本機內冷卻1小時后，立即以均勻之速度卷繞于規定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料，則先行卷繞，再冷卻相同之時間后，立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料，檢視其表面產生龜裂、裂痕。
低溫撓卷試驗裝置技術參數：
溫度
Temp. 冷卻方式
Cooling method 降溫速度
Cooling speed 精度
Accuracy 材質
Material 圓桿
Rod 內箱
Test chamber 線套 體積
Dimension
(W×D×H) 重量
Weight 電源
Power
-40～ 130℃ 氣冷式
Air Frozen 常溫
Room temp. ～-40℃,
60min ±2℃ 內外箱，
SUS304# Φ4.0～37.5mm，共12支 45×50×50cm Φ3.5/6/
10/12/
16mm
各2只 100×80×135cm 262kg 1∮
AC 220V 30A
