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鍍鋁層厚度測量?
由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此不能用常規的測厚儀器檢測其厚度，常用的檢測方法有：?
電阻法??電阻法是利用歐姆定律來對鍍鋁層的厚度進行測量，根據歐姆定律?
R＝ρ×L/S?
單位面積鍍鋁薄膜的電阻值越小，其鍍鋁層的厚度越厚，反之則越薄。?電阻法檢測鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示，單位是Ω/□，數值越大說明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□，標準GB/T?15717-1995《真空金屬鍍層厚度測試方法?電阻法》對這一方法進行了詳細的規定。?
光密度法??光密度（OD）定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測量。光密度沒有量綱單位，是一個對數值，通常僅對鍍鋁薄膜和珠光膜進行光密度測量
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