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ITO薄膜是一種n型半導體材料，具有高的導電率、高的可見光透過率、高的機械硬度和良好的化學穩定性。它是液晶顯示器（LCD）、等離子顯示器（PDP）、電致發光顯示器（EL/OLED）、觸摸屏（TouchPanel）、太陽能電池以及其他電子儀表的透明電極常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜，在透明導電薄膜方面得到普遍的應用，具有廣闊的前景。但薄膜的厚度均勻直接關系到企業的生產成本控制，所以對ITO薄膜厚度的高精度測量，是企業必須重視的檢測項目之一。
Labthink蘭光研發生產的CHY-CA測厚儀，采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效了測試的規范性和準確性。適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。設備分辨率高達0.1微米，配置的自動進樣系統，使用戶可自行設置進樣步距、測量點數和進樣速度，大大提高了薄膜厚度測試效率。
ITO薄膜厚度檢測儀器技術特征：
測試范圍：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min （可調）
測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
進樣步距：0～1000 mm
進樣速度：0.1～99.9 mm/s
以上【ITO薄膜厚度檢測儀器】信息由濟南蘭光機電技術有限公司發布，如欲了解更詳細信息，歡迎致電0531-85068566垂詢！
