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SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀產(chǎn)品用途
SGW X-4A熔點(diǎn)儀可以測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)，主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。
二、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀特點(diǎn)
既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
三、SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀主要技術(shù)參數(shù)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍： 室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性： ±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示小值：0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式： 雙目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)： 40-100X
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