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EM5030 CYBERTEK近場探頭套件主要用于電子產品的電磁場測量，實現干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場測試任務。配套使用的放大器，增益約20dB，可提高系統測試靈敏度！廣泛應用于檢測器件或者是表面的磁場方向及強度；機箱、線纜、PCB模塊等磁場泄露情況；甚至可以到IC引腳以及具體的走線，從而判斷干擾產生的原因，提品設計水平，縮短產品開發周期。
EM5030—1：磁場近場探頭，可檢查10CM范圍內的磁場。主要用于機箱泄露測試。頻率范圍：30MHz to 3GHz 分辨率：25MM左右
EM5030—2：磁場近場探頭，可檢查3CM范圍內的磁場。頻率范圍：30MHz to 3 GHz。 分辨率：10MM左右。
EM5030—3：磁場近場探頭，主要用于線纜電磁泄露測試。頻率范圍：30MHz to 2 GHz。 分辨率：5MM左右。
EM5030—4：磁場近場探頭，可檢測垂直方向發射的電磁場。主要用于PCB布線產生的電磁場測試。頻率范圍：30MHz to 3 GHz。 分辨率：2MM左右。
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