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太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀 EL測(cè)試儀器 產(chǎn)品特點(diǎn):
1、的成像質(zhì)量：140萬(wàn)、600萬(wàn)、830萬(wàn)成像質(zhì)量?jī)?yōu)良，無(wú)噪點(diǎn)。相機(jī)帶有半導(dǎo)體制冷，較低可達(dá)-20°C，排除熱噪聲的影響，使圖像質(zhì)量進(jìn)一步提升。
2、全封閉式光路設(shè)計(jì)：全封閉光學(xué)系統(tǒng)和恒溫冷卻系統(tǒng)使測(cè)試環(huán)境保持在全暗室和恒溫環(huán)境下，了整個(gè)系統(tǒng)運(yùn)行的穩(wěn)定性；避免了因外界雜光和溫度不均造成測(cè)試成像噪點(diǎn)，了測(cè)試的直觀性和準(zhǔn)確性
3、強(qiáng)大專(zhuān)用測(cè)試軟件：全中文顯示界面，可自動(dòng)手動(dòng)掃描圖形碼編號(hào)并按編碼進(jìn)行文件保存?？煞糯髵呙鑸D像顯示細(xì)節(jié)，方便判斷。
太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
型號(hào)規(guī)格
EL140S/D-M
EL600S/D-M
EL830S/D-M
有效測(cè)試面積
1200mm X 2100mm
分辨率
1360×1024（單）
3032*2016（單）
3358*2536（單）
2720*1024（雙）
6656*2030（雙）
6716*2536（雙）
測(cè)試組件類(lèi)型
單晶、多晶組件
相機(jī)類(lèi)型
冷卻型CCD
太陽(yáng)能組件EL缺陷測(cè)試儀應(yīng)用
該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象
聯(lián)系人:王丹丹
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