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CST-50沖擊試樣缺口投影儀（夏比投影儀）
一、 沖擊試樣缺口投影儀產(chǎn)品簡介：
沖擊試樣缺口投影儀（夏比投影儀）是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。沖擊試樣缺口投影儀（夏比投影儀）是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前切實(shí)可行、并能檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的必備儀器。
二、 沖擊試樣缺口投影儀主要技術(shù)指標(biāo)：
1、放大倍數(shù)：50×
2、投影屏尺寸：200×200mm
3、工作臺位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)
4、工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0～360о（無刻度）
5、光源：鹵鎢燈12V 100W
6、電源：220V 50HZ 150W
7、外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
