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點(diǎn)規(guī),點(diǎn)線規(guī),污點(diǎn)對(duì)比卡
主要用于品管部門判定污點(diǎn)，是用來(lái)測(cè)量、對(duì)比手機(jī)外殼、LENS、DISPLAY等部件的點(diǎn)、劃痕的面積、直徑、寬度、長(zhǎng)度超過(guò)基準(zhǔn)，適用在LCD,PCB板,光電，通信行業(yè)等.通過(guò)外觀等級(jí)的，采用點(diǎn)規(guī)線規(guī)卡客觀的進(jìn)行定量測(cè)定，從而統(tǒng)一全公司產(chǎn)品的外觀判定標(biāo)準(zhǔn)，縮小零部件接收部門和供應(yīng)商之間的判定誤差，可以正確的向供應(yīng)商和接收部門傳達(dá)所要求的產(chǎn)品的外觀，而不需要制作限度樣品，不需要
外觀的等級(jí)！
