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科研級正置系統(tǒng)金相顯微鏡 BX51/BX51M-IR
近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵蓋從可見光到近紅外整個波段
晶圓，化合物半導體的內(nèi)部，封裝芯片內(nèi)部以及CSP bump觀察適宜
BX51M金相顯微鏡主要特點：
１、UIS無限遠校正光學系統(tǒng)，提供出色的圖像質(zhì)量
２、人機工程學的進一步改善，使操作更為舒適
３、多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要
透反兩用研究系統(tǒng)顯微鏡，涵蓋所有觀察方式
新的光路設(shè)計， 12V/100W 光源
明場，暗場，偏光，微分干涉相襯，熒光觀察方式可選
可連接多種膠片或數(shù)字照相系統(tǒng)
使用物鏡實現(xiàn)明場、暗場、熒光、微分干涉、偏光的各種觀察
出類拔萃的明視野顯微鏡圖像質(zhì)量
的熒光觀察功能， 100W 汞燈的有效光強比原來增加一倍
解像度和對比度鮮明的諾曼斯基微分干涉襯比法觀察
放大倍率 50×～1000×
高剛性的 Y形鏡體結(jié)構(gòu)提供 極高的穩(wěn)定性及系統(tǒng)靈活性
易于連接數(shù)碼照相及視頻成像設(shè)備
